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自动检测设备-键盘AOI检测

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光学半导体设备 2024-09-24 09:37:22 2024-09-25 08:55:17 6192
详情介绍

功能:

◆ 适用于检测电脑键盘所有键帽的凸点、划痕、裂纹等外观缺陷

特征:

◆ 亮点1:自主研发的缺陷识别算法

◆ 亮点2:三级除尘设计

◆ 亮点3:兼容多个键盘

◆ 亮点4:快速换线

    A→B(新车型)120min,包括建模调试验证时间

    B→A(旧型号)15分钟

参数:

◆ 检测精度:30μm/px

◆ 最小缺陷检测能力:0.02mm²

◆ 遗漏率(按键盘计算):≤1%

◆ 复核率(按键盘计算):≤5%

◆ 节拍:≤18s

◆ 尺寸:长1650毫米*宽750毫米*高1600毫米


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